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处理库存：HP8753C HP8753C网络分析仪HP8753C唐S13580767730

描述
HP8753C网络分析仪为实验室和生产测试领域提供了优越的RF网络测量设备。当组合一套测试装置，它为

分析300kHz~6GHz的有源和无源网络、器件与元件的线性特性提供了完满的解决途径。网络分析仪有两个

独立的显示通道，你可以同时测量待测器件的反射和传输特性，并以重叠或分离屏面的形式观察测量结

果。便于使用的预编程按键使你能快速测量待测器件的幅度、相位或群延迟特性。
测试时序功能允许一次键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量一次，

分析仪便能储存键入，以至无需额外编程。还可以利用测试时序经HP-IB端口对其它装置进行控制。另一

些提高效率的措施包括绘图仪/打印机缓冲区、极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内

插误差修正能提高HP8753C分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。
集成化的合成信号源提供大于100mW的输出功率、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表、功率和连续波扫

描类型。三个调谐接收机在300kHz ~ 3GHz（选件006扩展到6GHz）上在超过100dB的动态范围内进行独立

功率测量或同时进行比值测量。当HP8753C连接HP85047A测试装置时，可以从300kHz~3GHz或从3MHz~6GHz

（测试装置带有倍频器）研究待测设备的反射和传输特性。
非线性器件测试
HP8753C具有测量非线性器件特性的能力，当增加了谐波测量功能（选件002），可以直接或相对于基本

载波（dBc）显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。当一个作为基本信号的扫描频率低于16MHz时，

可以快速和方便的测量达40dBc放大器谐波，使用同样的测试设备通常还用来测量增益。功率计校准相对

绝对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的绝对功率。HP8753C自动对HP436A、HP437B、或HP438A功率计

进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度。分析仪还完成混频器统调和变频损

耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。
时域分析
HP 8753C（带选件010）具有显示网络时域响应的功能，分析仪计算频域响应的傅立叶逆变换，显示网络

的反射或传输系数与时间的关系。
HP 8753C提供了两种时域模式，低通模式提供传统的时域反射计（TDR）测量能力，并给出网络的阶跃响

应和冲击响应。这种模式给出在不连续状态的阻抗（R，L，C）类型的信息。带通时域模式，只有脉冲激

励，没有频率限制，并给出频率选择设备的时域响应，比如SAW滤波器或天线。选通功能可以用来选择性

隔离一个信号响应，并观察一个没有自身线路干扰的部件的单个部分的频域响应。
HP 8753C一般技术指标
信号源频率特性
范围：300kHz ~ 3GHz
分辨率：1Hz
准确度（25℃）：±10ppm
输出特性功率范围：-5 ~ +20dBm
电平精度（50MHz，+10dBm）：±0.5dB
电平线性：-5~0dBm：±0.5dB；0~15dBm：±0.2dB
+15~+20dBm：±0.5dB
阻抗：50Ω
谐波：≤-25dBc（20dBm输出电平）
≤-50dBc（0dBm输出电平）
非谐波与混频器有关的非谐波寄生信号：
≤-32dBc（20dBm输出电平）
≤-55dBc（0dBm输出电平）
其它寄生信号：f<135MHz：-60dBc
f≥135MHz：-60dBc+20*log（f/135MHz）dBc
相位噪声（1Hz带宽，10kHz偏置）：f<135MHz：-90dBc
f≥135MHz：90dBc+20*log（f/135MHz）dBc
接收机
频率范围：300kHz~6GHz
输入：A，B 100dB动态范围<3GHz，95dB动态范围3~6GHz
灵敏度（噪声电平）：
3kHz带宽：-90dBm<3GHz；-85dBm 3~6GHz
10Hz带宽：-100dBm<3GHz，-95dBm 3~6GHz
最大输入电平：0dBm
阻抗：50Ω
输入交叉干扰：
300kHz~1GHz：-100dB
1GHz~3GHz：-90dB
3GHz~4.5GHz：-85dB
4.5GHz~6GHz：-75dB
动态精度：±0.05dB，±0.3o
群延迟特性
范围：1/（2×最小孔径）
孔径：可选择的
最大：频率间隔的20%
最小：（频率间隔）/（点数-1）
分辨率：27.8/孔径（Hz）
典型值0.01ns
精度：相位精度/360×孔径（Hz）
射频连接器：50ΩN型（阴）
结构特性
尺寸：178mm（高）×425mm（宽）×498mm（长）
重量：净重22公斤
S参数测试装置
这个S参数测试装置提供用一次连接便能测量二端口器件在任何一个方向上的反射和传输特性（包括S参

数）的功能。测试装置由分析仪控制，并包括程控步进衰减器。
HP85046A/B S参数测试装置
HP85046A/B测试装置能同时分别测量50Ω和75Ω器件的传输和反射特性。